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M-2000系列光譜橢偏儀旨在滿足薄膜量測的各種需求

橢偏儀theta-SE多點量測橢偏儀是一種用於表徵薄膜均勻性的光譜式橢偏儀

橢偏儀光譜橢偏儀Alpha-SE非破壞性薄膜厚度量測儀是J.A.Woollam橢偏儀產(chǎn)品中

利用反射原理推算膜厚，完整的軟體資料，內(nèi)建500種以上材料數(shù)據(jù)供比對

MProbe 20系列非破壞性反射式膜厚儀

MProbeHC是一個完整量測薄膜上硬鍍層的平面或曲面系統(tǒng)

VUV-VASEEllipsometer薄膜厚度量測儀以M-2000為主體

J.A.WoollamVASE是一款高精度多角度橢圓偏光儀，V-VASE系統(tǒng)非接觸式膜厚量測，垂直擺放樣品，移動精度高，量測角度從15-90度，可進一步量測樣品...

干涉式膜厚儀-使用光進行非接觸式厚度測量Bristol膜厚儀使用光的特性來精確測量透明、半透明和一些不透明材料的厚度